一种自适应光学人眼散射客观测量仪
- 专利权人:
- 中国科学院光电技术研究所
- 发明人:
- 赵军磊
- 申请号：
- CN202011030888.5
- 公开号：
- CN112043232A
- 申请日:
- 2020.09.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种自适应光学人眼散射客观测量仪，包括光源，光学系统，自适应光学子系统和人眼散射测量子系统。自适应光学子系统包括波前探测装置，波前校正器及控制装置计算机，用于控制人眼像差；人眼散射测量子系统包括人眼双通PSF测量系统和散射系数计算模块，用于人眼散射客观测量。自适应光学人眼散射客观测量仪系统开始工作后，先采用自适应光学子系统校正人眼像差，随后人眼散射测量子系统进行人眼散射客观测量，本发明自适应光学人眼散射客观测量仪消除了人眼像差对人眼散射客观测量的影响，提高了人眼客观散射测量精度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
