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Verfahren und Vorrichtung zum Bereitstellen von Güteeinformation für eine Röntgenbildgebung
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft; 80333; München; DE
发明人:
Engel, Klaus, Dr., 90491, Nürnberg, DE,Klar, Oliver, 90459, Nürnberg, DE,Kowarschik, Markus, Dr., 90579, Langenzenn, DE,Meilinger, Manuel, 93053, Regensburg, DE,Scherl, Holger, 91054, Erlangen, DE,Sch
申请号:
DE102010034918
公开号:
DE102010034918A1
申请日:
2010.08.20
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Es werden Verfahren und Vorrichtungen angegeben, mit denen eine ortsaufgelöste Güteinformation für eine Röntgenbildgebung bereitgestellt wird, bei der aus einer Mehrzahl von Aufnahmen (31, 34) eines Untersuchungsobjekts (22) ein das Untersuchungsobjekt repräsentierendes Datenfeld rekonstruiert wird. Für eine Mehrzahl von Elementen (17&ndash19) des Datenfeldes wird eine Güteinformation ermittelt, die die Zuverlässigkeit des rekonstruierten Datenfeldes für das entsprechende Element (17&ndash19) angibt.The invention relates to methods and devices by which the detection of a localized quality information for an x-ray is provided, in the case of a plurality of receptacles (31, 34) of an examination subject (22) representing a data field a, the object to be examined is reconstructed. For a plurality of elements (17, 19) of the data field, a quality information is determined, which the reliability of the reconstructed data field for the corresponding element (17, 19) indicates.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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