A method and apparatus to measure and analyze electromagnetic emissions from implanted electronics to accomplish at least one of: detect and identify an active implant comprising electronics implanted in a biological host, diagnose the health of individual electronics as well as their health as an ensemble, and predict probable degradation of individual electronics, degradation of the electronic ensemble, and of the active implant in an automated fashion. The methods comprise filtering techniques to extract the information about the active implants electronics by filtering out relevant biological effects induced by the active implants biological situation. Said detection, identification, diagnosis, and prognosis are based on the measurement of intentional and unintentional electromagnetic emissions that emanate from the implant electronics of the active implant in a given biological situation.Linvention concerne un procédé et un appareil pour mesurer et analyser des émissions électromagnétiques issues de composants électroniques implantés pour accomplir au moins une des actions suivantes : détecter et identifier un implant actif comprenant des composants électroniques implanté dans un hôte biologique, diagnostiquer la santé dun composant électronique individuel, ainsi que leur santé en tant quensemble, et prévoir la dégradation probable du composant électronique individuel, la dégradation de lensemble électronique et de limplant actif dune manière automatisée. Les procédés comprennent des techniques de filtration pour extraire les informations relatives au système électronique de limplant par filtration des effets biologiques pertinents induits par la situation biologique de limplant actif. Ladite détection, ladite identification, ledit diagnostic et ledit pronostic sont fondés sur la mesure démissions électromagnétiques intentionnelles et non intentionnelles qui émanent du système électronique de limplant actif dans une situation biologique donnée.
