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細隙灯顕微鏡
专利权人:
TOPCON CORP
发明人:
NOMURA KAZUHISA,野村 和久,WATANABE TAKAHIRO,渡辺 孝浩,TAKEDA TAKANORI,武田 孝紀
申请号:
JP2012176525
公开号:
JP2014033812A
申请日:
2012.08.08
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit-lamp microscope capable of highly accurately and easily adjusting a slit width.SOLUTION: The slit-lamp microscope according to one embodiment includes a light source, a pair of slit blades, an actuator, a mechanism, an operation unit, a storage unit, an operation content detection unit, and a control unit. The light source emits illumination light. The pair of slit blades generates slit light from the illumination light. The actuator generates drive force. The mechanism changes an interval between the slit blades on the basis of the drive force. The storage unit prestores association information associating an operation content for the operation unit and an actuation amount of the actuator. The operation content detection unit detects an operation content for the operation unit. The control unit acquires the actuation amount associated to the detected operation content on the basis of the association information, and controls the actuator on the basis of the acquired actuation amount to change an interval between the pair of slit blades by a distance corresponding to the operation content.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】スリット幅の調整を高い精度でかつ容易に行うことが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】実施形態の細隙灯顕微鏡は、光源と、一対のスリット刃と、アクチュエータと、機構と、操作部と、記憶部と、操作内容検出部と、制御部とを有する。光源は照明光を発する。一対のスリット刃は、照明光からスリット光を生成する。アクチュエータは駆動力を発生する。機構は、駆動力に基づいてスリット刃の間隔を変更する。記憶部には、操作部に対する操作内容とアクチュエータの作動量とを対応付けた対応情報が予め記憶される。操作内容検出部は、操作部に対する操作内容を検出する。制御部は、検出された操作内容に対応付けられた作動量を対応情報に基づき取得し、取得された作動量に基づいてアクチュエータを制御することにより当該操作内容に応じた距離だけ一対のスリット刃の間隔を変更する。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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