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X-ray X-ray X-ray INSPECTION SYSTEM BY X-ray IMAGE OPTIMIZATION
专利权人:
주식회사 아임클라우드
发明人:
이두식,오태현,김수용
申请号:
KR1020180173422
公开号:
KR1020200082639A
申请日:
2018.12.31
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要:
According to an embodiment of the present invention An optimized image converter converting the original X-ray image into another image; A deep learning program that receives the original X-ray image and an image converted by the optimized image conversion unit-a converted X-ray image-and outputs respective similarities; A determination unit determining whether there is a disease in the original X-ray image by referring to the similarities output by the deep learning program; It includes, The deep learning program calculates and outputs a degree of similarity between a model and the original X-ray image, and a degree of similarity between the model and the transformed X-ray image, and improves readability through X-ray image optimization. The -ray reading system is disclosed.본 발명의 일 실시예에 따르면 원본 X-ray 이미지를 다른 이미지로 변환하는 최적화 이미지 변환부; 상기 원본 X-ray 이미지와 상기 최적화 이미지 변환부에 의해 변환된 이미지 - 변환 X-ray 이미지 - 를 입력받아서, 각각의 유사도를 출력하는 딥 러닝 프로그램; 상기 딥 러닝 프로그램에 의해 출력된 유사도들을 참조하여, 상기 원본 X-ray 이미지에 질병이 있는지 여부를 판단하는 판단부; 를 포함하며,상기 딥 러닝 프로그램은 모델과 상기 원본 X-ray 이미지와의 유사도와, 상기 모델과 상기 변환 X-ray 이미지와의 유사도를 산출하여 출력하는 것인, X-ray 이미지 최적화를 통해 판독률이 향상된 X-ray 판독시스템이 개시된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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