A method and system that enable the measurement of a second-harmonic-generation-forward/backward (SHG F/B) ratio from an object by performing only a single image scan using via epi-imaging using an epi-detection technique. Two simultaneous SGH images (a forward propagating SHG "F" image and a back propagating SHG "B" image) are generated during the single image scan. A pinhole mirror can be used to separate the F-SHG and the B-SHG, which are detected by separate detectors.Linvention concerne un procédé et un système permettant de mesurer un rapport avant-arrière de génération de deuxième harmonique (second-harmonic-generation-forward/backward, SHG F/B) à partir dun objet en neffectuant quun seul balayage dimage par épi-imagerie en utilisant une technique dépi-détection. Deux images SGH simultanées (une image SHG "F" se propageant vers lavant et une image SHG "B" se propageant vers larrière) sont générées au cours du balayage dimage unique. Un miroir à sténopé peut être utilisé pour séparer la SHG-F de la SHG-B, celles-ci étant détectées par des détecteurs distincts.
