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一种平板探测器、X射线成像系统及自动曝光检测方法
- 专利权人:
- 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
- 发明人:
- 欧阳纯方,金利波,邱承彬
- 申请号：
- CN201610794885.6
- 公开号：
- CN107773259A
- 申请日:
- 2016.08.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种平板探测器、X射线成像系统及自动曝光检测方法,包括:第一闪烁体层、图像传感器、自动曝光检测传感器及PCB电路板;与X射线源、显示设备组成X射线成像系统。自动曝光检测传感器清空各像素单元中的电荷;采集各像素单元中的电荷,并计算其累积分布函数,以累积分布函数的设定概率所对应的电压值作为参考值;若所述参考值未超出阈值电压则判定为无X射线,返回清空;若所述参考值超出阈值电压则判定为有X射线,执行下一次清空、采集和比较,至少连续2次判定有X射线则发出曝光请求信号以实现自动曝光检测。本发明实现自动曝光检测的全视野检测,减少误触发,灵敏度高,有效提高图像采集质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
