您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Implant installation strength evaluation method, implant installation strength evaluation device and program
专利权人:
学校法人慶應義塾;国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構;公益財団法人レーザー技術総合研究所
发明人:
中島 大輔,名倉 武雄,錦野 将元,長谷川 登,三上 勝大,北村 俊幸,近藤 修司,岡田 大,島田 義則
申请号:
JP2019542284
公开号:
JPWO2019054442A1
申请日:
2018.09.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
The implant strength evaluation method is based on the time series data of the vibration frequency and vibration intensity of the implant vibrated by the step of vibrating the implant, and the vibratory step, and the time series data of the implant frequency and vibration intensity There is a step of deriving information indicating an index of the installation strength of the plant.インプラント設置強度評価方法は、インプラントを振動させるステップと、振動させるステップで振動させたインプラントの振動数および振動強度の時系列データを測定するステップと、インプラントの振動数および振動強度の時系列データに基づいて、インプラントの設置強度の指標を示す情報を導出するステップとを有する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
相关发明人
相关专利

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充