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Method for compensating the artifacts generated by moving measurement objects in measurement signals from swept source OCT systems
专利权人:
Carl Zeiss Meditec AG
发明人:
Rainer Leitgeb,Michael Niederleithner
申请号:
DE102018007757
公开号:
DE102018007757A1
申请日:
2018.10.02
申请国别(地区):
DE
年份:
2020
代理人:
摘要:
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kompensation der von bewegten Messobjekten erzeugten Artefakte in Messsignalen von Swept-Source-OCT-Systemen.Erfindungsgemäß erfolgt die Signalrekonstruktion ohne Zuhilfenahme von zusätzlichen Referenzsignalen bezüglich der Bewegung des Messobjektes nur durch speziell angepasste Algorithmen.Bevorzugte Weiterbildungen und Ausgestaltungen betreffen zum einen die speziell angepassten, auf Fourier-Transformation basierenden Algorithmen zur Verarbeitung der erfassten Messsignale.Zum anderen betreffen die bevorzugte Weiterbildungen und Ausgestaltungen die zu erfassenden Messsignale, insbesondere die zu deren Erzeugung verwendeten, auf der optischen Kohärenzinterferometrie basierenden Messsysteme.Obwohl das vorgeschlagene Verfahren insbesondere für die Anwendung in der Ophthalmologie vorgesehen ist, kann es prinzipiell überall dort angewendet werden, wo die von gekrümmten Flächen reflektierten bzw. von Strukturen rückgestreuten Signale analysiert werden.The present invention relates to a method for compensating the artifacts generated by moving measurement objects in measurement signals from swept-source OCT systems. According to the invention, the signal is reconstructed without the aid of additional reference signals with respect to the movement of the measurement object only by means of specially adapted algorithms. Preferred developments and refinements relate to on the one hand, the specially adapted algorithms based on Fourier transformation for processing the detected measurement signals; on the other hand, the preferred developments and refinements relate to the measurement signals to be recorded, in particular the measurement systems used to generate them, based on optical coherence interferometry; although the proposed method in particular is intended for use in ophthalmology, it can in principle be used wherever the Si reflected from curved surfaces or backscattered from structures gnale are analyzed.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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