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X線診断装置
专利权人:
TOSHIBA CORP
发明人:
TAKEMOTO HISATO,竹元 久人,SAKAGUCHI TAKUYA,坂口 卓弥,ISHIKAWA TAKAYUKI,石川 貴之,WATANABE KOICHIRO,渡辺 耕一郎
申请号:
JP2012201817
公开号:
JP2014054441A
申请日:
2012.09.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low-exposure X-ray diagnostic apparatus capable of omitting complicated setting of an area of interest.SOLUTION: An X-ray diagnostic apparatus includes: an X-ray generation part generating X-rays an X-ray diaphragm unit having a diaphragm with a variable aperture limiting the irradiation field of an X-ray a plane detector detecting the X-ray limited in the irradiation field via the X-ray diaphragm unit an image data storing part storing X-ray image data output from the plane detector a feature point extracting part extracting a desired device feature point from the X-ray image data an ROI image position calculating part calculating the center position and the field of the area of interest on the basis of the position information on the feature point extracted by the feature point extracting part and an ROI diaphragm position calculating part calculating the position of the aperture of the diaphragm of the X-ray diaphragm unit on the basis of the center position and the field of the area of interest calculated by the ROI image position calculating part.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】煩雑な関心領域設定を省略可能で低被爆なX線診断装置を提供すること。【解決手段】実施形態のX線診断装置は、X線を発生するX線発生部と、前記X線の照射範囲を限定する開口可変な絞りを備えるX線絞り器と、前記X線絞り器で照射範囲が限定されたX線を検出する平面検出器と、前記平面検出器から出力されるX線画像データを記憶する画像データ記憶部と、前記X線画像データから所望のデバイス特徴点を抽出する特徴点抽出部と、前記特徴点抽出部で抽出された特徴点の位置情報をもとに関心領域の中心位置および範囲を算出するROI画像位置算出部と、前記ROI画像位置算出部で算出された関心領域の中心位置および範囲にもとづいて、前記X線絞り器の絞りの開口位置を算出するROI絞り位置算出部と、を有する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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