油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法及装置
- 专利权人:
- 中国石油天然气股份有限公司
- 发明人:
- 邢学文,于世勇,刘松,申晋利,张强
- 申请号：
- CN201510463300.8
- 公开号：
- CN105092819A
- 申请日:
- 2015.07.31
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 王涛
- 摘要：
- 本发明提供了一种油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法及装置，所述光谱分析方法包括：采集油气藏及其外围浅表设定深度的土壤样品；测量所述土壤样品的氧化还原电位；测量土壤样品的反射率光谱，消除所述土壤样品在设定波长位置的光谱跃迁，对所述反射率光谱进行再处理，生成反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度三个衍生光谱指标；计算所述氧化还原电位与所述反射率光谱、反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度之间的相关系数；根据所述相关系数，确定建模的最佳光谱指标及建模波长；应用最小二乘法建立所述氧化还原电位与最佳光谱指标之间的回归模型。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
