一种芯片测试针
- 专利权人:
- 苏州韬盛电子科技有限公司
- 发明人:
- 曹子意
- 申请号：
- CN201521127893.2
- 公开号：
- CN205333702U
- 申请日:
- 2015.12.30
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 刘洪勋
- 摘要：
- 本实用新型涉及一种芯片测试装置，尤其涉及一种芯片测试针；本实用新型的一种芯片测试针，包括一端弯折相连的第一连接段和第二连接段，第一连接段的另一端连接有朝向远离第一连接段和第二连接段开口处方向弯折的PCB接触段，第二连接段的另一端连接有朝向远离第一连接段和第二连接段开口处方向弯折的芯片接触段；本实用新型的芯片测试针，用于芯片测试、结构简单、使用寿命高。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
