用于检测硅树脂植入物损伤的方法和计算机断层成像设备
- 专利权人:
- 西门子公司;慕尼黑克利尼库姆大学
- 发明人:
- T.约翰逊,B.克劳斯
- 申请号：
- CN201310383133.7
- 公开号：
- CN103654826A
- 申请日:
- 2013.08.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种借助CT设备检测人体目标区域中硅树脂植入物损伤的方法，有以下步骤：a）以不同的X射线光谱或辐射的不同单个能量进行目标区域的至少两次CT拍摄，b）将两次CT拍摄重建成3D数据集，其包含目标区域体素的X射线衰减值或等效物质密度，c）对于每个感兴趣体素确定数据点，将针对不同X射线能量衰减值对应标出，d）将每个感兴趣体素数据点或从X射线衰减值中得出值与身体组织和/或硅树脂的已知数据点或值相比较，以及e）在数据点或另一值与身体组织的已知数据点或值偏差至少规定的第一阈值和/或同时以相差小于第二阈值接近硅树脂的已知数据点或值时，输出提示或警告。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
