您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

照射線量異常分析装置および照射線量異常分析プログラム
专利权人:
株式会社東芝
发明人:
大脇 直記,高田 洋一,池田 智,八木 稔
申请号:
JP2005258053
公开号:
JP4950461B2
申请日:
2005.09.06
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To allow a user to recognize a cause of an increase in an exposure dose.SOLUTION: This exposure dose abnormality analysis device is so formed that a processor 11 comparatively analyzes the relationship of a plurality of parameters related to the exposure dose of radiation in a single examination for a plurality of examinations. The processor 11 specifies the cause of the abnormality of the examination wherein the exposure dose is abnormal based on the comparative analysis result.COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT【課題】 照射線量が高くなった原因をユーザに認識させることを可能とする。【解決手段】 プロセッサ11は、1つの検査における放射線の照射線量に関する複数のパラメータの関係を複数の検査について比較分析する。そしてプロセッサ11は、前記比較分析の結果に基づいて前記照射線量が異常である検査の異常原因を特定する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充