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眼科検査装置
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
ODA TAKESHI,小田 健史,ABE YUKIO,安部 幸雄
申请号:
JP2014074938
公开号:
JP2015195920A
申请日:
2014.03.31
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ophthalmologic examination apparatus capable of reducing the possibility of damage.SOLUTION: An ophthalmologic examination apparatus for examining an eye to be examined includes a storage part for storing a response unit provided to accept a response operation by a subject, and a connection part for detachably connecting the storage part to a housing of the ophthalmologic examination apparatus. A magnetic unit that generates magnetic force between the housing and the storage part may be provided to the storage part or the connection part.COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】 破損の可能性を低減できる眼科検査装置を提供することを技術課題とする。【解決手段】 被検眼を検査するための眼科検査装置であって、被検者による応答操作を受け付けるために設けられた応答ユニットを収納するための収納部と、前記眼科検査装置の筐体に対して前記収納部を着脱可能に連結するための連結部と、を備えることを特徴とする。前記収納部あるいは前記連結部には、前記筐体と前記収納部との間に磁力を発生させる磁気ユニットとが設けられてもよい。【選択図】 図6
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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