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X射线微分相衬显微成像系统及成像方法
专利权人:
中国科学院高能物理研究所
发明人:
朱佩平,洪友丽,张凯,袁清习,黄万霞,吴自玉
申请号:
CN201210592499.0
公开号:
CN103364416B
申请日:
2012.12.30
申请国别(地区):
中国
年份:
2016
代理人:
孟阿妮
摘要:
本发明涉及纳米分辨X射线波带片显微成像技术领域,具体公开了一种X射线微分相衬显微成像系统成像方法,所述系统按照X射线传播方向依次包括X射线光源、聚光镜、样品台、X射线波带片、吸收环和成像探测器。本发明虽然是针对波带片为物镜的X射线显微镜的不足而提出的,并且采用本发明的X射线微分相衬显微成像系统和二维成像方法和/或三维成像方法能够对物体快速成像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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