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DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE ET PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE
专利权人:
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY;国立大学法人香川大学
发明人:
ISHIMARU, Ichiro,石丸 伊知郎,石丸 伊知郎
申请号:
JPJP2016/051187
公开号:
WO2016/121540A1
申请日:
2016.01.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2016
代理人:
摘要:
A spectrometry device according to the present invention is provided with: a light source 101 that causes p-polarized light, which is linearly polarized light having an electric field vibration direction parallel to the incidence surface, to be incident on the surface of an object of measurement at Brewster's angle; an introduction optical system 103 for introducing measurement light emitted from the object of measurement struck by the p-polarized light into a phase shifter 105 and dividing the same into two measurement light beams; an interference light optical system 106 for forming interference light from the two measurement light beams; an interference light detection unit 107 for detecting the intensity of the interference light; a processing unit 201 for creating an interferogram of the measurement light on the basis of the intensity variation of the interference light obtained through the driving of the phase shifter 105; and a calculation unit 202 for obtaining a measurement light spectrum by applying the Fourier transform to the measurement light interferogram.Un dispositif de spectrométrie selon la présente invention comprend : une source de lumière (101) qui amène une lumière à polarisation (p), qui est une lumière linéairement polarisée ayant une direction de vibration de champ électrique parallèle à la surface d'incidence, à être incidente sur la surface d'un objet de la mesure à l'angle de Brewster ; un système optique d'introduction (103) pour introduire une lumière de mesure émise par l'objet de la mesure frappé par la lumière à polarisation (p) dans un déphaseur (105) et diviser cette dernière en deux faisceaux lumineux de mesure ; un système optique de lumière d'interférence (106) pour former une lumière d'interférence à partir des deux faisceaux lumineux de mesure ; une unité de détection de lumière d'interférence (107) pour détecter l'intensité de la lumière d'interférence ; une unité de traitement (201) pour créer un interférogramme de la lumièr
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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