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一种基于硬件高斯拟合粒子束治疗装置的束斑位置方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 谭萍,林银洁,雷浩,余业成,胡玉莹
- 申请号：
- CN201910893001.6
- 公开号：
- CN110694186A
- 申请日:
- 2019.20.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种基于硬件高斯拟合粒子束治疗装置的束斑位置方法,属于束流检测技术领域。包括:根据电离室阴极条带上采样到的电流幅值信号,确定拟合条带位置范围;对拟合条带位置范围内的条带信号缺失值进行填充;根据缺值填充处理后的条带信号和位置,在硬件中使用高斯拟合算法进行拟合,得到粒子治疗中束斑的位置。本发明通过研究电离室中条带电荷的收集情况,将限定范围、设置阈值、线性插值的高斯拟合算法应用到治疗中束斑位置的计算上,并在FPGA硬件实现,实现了实时快速准确地计算得束斑位置的需求。引入学生t分布函数,采用极大似然法求得束斑位置,与FPGA计算结果进行校验,进一步保证束斑位置监测的准确性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
