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放射線画像撮影装置
专利权人:
FUJIFILM CORP
发明人:
NAKATSUGAWA HARUYASU,中津川 晴康,NISHINO NAOYUKI,西納 直行,NARIYUKI SHOJI,成行 書史,OTA YASUYOSHI,大田 恭義,IWAKIRI NAOTO,岩切 直人,NODA KAZUHIRO,野田 和宏
申请号:
JP2010258179
公开号:
JP2012108052A
申请日:
2010.11.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To detect deterioration of the inside of a radiation image photographing device.SOLUTION: A radiation image photographing device (20, 20A to 20C) comprises: a scintillator (74) for converting radiation to visible light a light detection substrate (72) for converting the visible light to an electric signal and a light source (78) capable of selectively irradiating the light detection substrate (72) with at least two lights having different peak wavelengths. In this case, the light source (78) can irradiate the light detection substrate (72) with one light of the at least two lights as a reset light, and irradiate the light detection substrate (72) with the other lights as lights for deterioration detection to detect deterioration of the inside of the radiation image photographing device (20, 20A to 20C).COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】放射線画像撮影装置内の劣化を検知する。【解決手段】放射線画像撮影装置(20、20A~20C)は、放射線を可視光に変換するシンチレータ(74)と、可視光を電気信号に変換する光検出基板(72)と、ピーク波長が互いに異なる少なくとも2つの光を光検出基板(72)に選択的に照射可能な光源(78)とを有する。この場合、光源(78)は、少なくとも2つの光のうち、一方の光をリセット光として光検出基板(72)に照射し、他方の光を放射線画像撮影装置(20、20A~20C)内の劣化を検知するための劣化検知用光として光検出基板(72)に照射することが可能である。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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