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PROCÉDÉ DE PARAMÉTRAGE D'UN APPAREIL DE MESURE, PROGRAMME INFORMATIQUE ET APPAREIL DE MESURE
专利权人:
UMC Utrecht Holding B.V.
发明人:
申请号:
EP16733739.3
公开号:
EP3289350A2
申请日:
2016.05.02
申请国别(地区):
EP
年份:
2018
代理人:
摘要:
Method for setting measuring equipment, wherein by means of introducing one or more simulated errors in a substantially error-free series of real measurement values a determination is made as to how quickly the measuring equipment detects the simulated errors, comprising of applying a series analysis method to the error-free series and setting limit values on the basis of values generated by the series analysis method.Dans un procédé de paramétrage d'un équipement de mesure d'après la présente invention, l'introduction d'une ou plusieurs erreurs simulées dans une série de valeurs de mesures réelles sensiblement sans erreur permet de déterminer à quelle vitesse l'équipement de mesure détecte les erreurs simulées. Ledit procédé de paramétrage comprend les étapes consistant à appliquer un procédé d'analyse de série à la série sensiblement sans erreur et à paramétrer les valeurs limites sur la base des valeurs générées par le procédé d'analyse de série.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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