VERFAHREN UND VORRICHTUNG FÜR DIE SEQUENZIELLE AUFNAHME VON INTERFEROMETRISCHEN TIEFENSCHNITTBILDERN IN VERSCHIEDENEN TIEFEN, INSBESONDERE ZUR ANALYSE DES AUGES
ENGELHARDT, RALF,ENGELHARDT, Ralf,DROEGE, GERIT,DRÖGE, Gerit,MARTENSEN, BJOERN,MARTENSEN, Björn
申请号：
EPEP2012/000487
公开号：
WO2012/104097A1
申请日:
2012.02.03
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要：
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren für die sequenzielle Aufnahme von interferometrischen Schnittbildern in verschiedenen Tiefen, insbesondere zur Analyse eines Auges, wobei mittels eines Interferometers (1), welches einen optischen Referenzweg (9) und einen optischen Probenweg (10) enthält, ein Probenstrahl (14) einen Messbereich (3) einer Probe (2), insbesondere des Auges, zur Erzeugung eines Tiefenschnittbilds abtastet. Ferner bezieht sich die Erfindung auf eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Es soll die Aufgabe gelöst werden, das Verfahren ebenso wie die Vorrichtung dahingehend weiterzubilden, dass die optischen und geometrischen Wege in einem Probenarm und/oder Referenzarm des Interferometers schnell zwischen zwei oder mehr Positionen umgeschaltet werden können. Zur Lösung wird vorgeschlagen, dass die Weglänge des Probenstrahls (14) und /oder des Referenzstrahls (15) mittels einer Weglängenschalteinheit (16) verändert wird und Tiefenschnittbilder in wenigstens zwei unterschiedlichen Tiefen der Probe (2) erzeugt werden und die Veränderung der Weglänge in einer Schalteinheit durch Umlenken der Strahlengänge auf unterschiedliche geometrische Wege erfolgt.The invention relates to a method for the sequential recording of interferometric sectional images at different depths, in particular for analysis of an eye, wherein, by means of an interferometer (1) that contains an optical reference path (9) and an optical sample path (10), a sample beam (14) sweeps across a measurement area (3) of a sample (2), in particular of the eye, in order to generate a deep sectional image. The invention further relates to a device for carrying out the method. The object is to develop the method and the device in such a way that the optical and geometric paths in a sample arm and/or reference arm of the interferometer can be switched quickly between two or more positions. To achieve this object, it is proposed that the path length of the sample beam (14) and/or of
