一种无损检测结构表面裂纹工艺
- 专利权人:
- 王金鹤
- 发明人:
- 王金鹤
- 申请号：
- CN201410282499.X
- 公开号：
- CN105181788A
- 申请日:
- 2014.06.23
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种无损检测结构表面裂纹工艺，包括四个步骤：第一步：特征信号提取，在交流电磁场检测中，裂纹附近的磁场分布是一个空间矢量，把磁感应强度信号按照裂纹的长度分量、宽度分量和深度分量进行分解，在三个分量分析中，假定其他两个分量恒定，逐一分析每个分量裂纹，建立磁场与裂纹的对应关系，筛选出裂纹外形尺寸特征量；第二步：灵敏度计算，包括长度灵敏度计算、宽度灵敏度计算和深度灵敏度计算；第三步：裂纹外形尺寸特征量提取；第四步，裂纹量化算法。本发明对含任意形状裂纹构件的电磁场分布进行了数值模拟分析，获得了磁场分布与裂纹尺寸形状之间的转化规律。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
