KUZNETSOVA IRINA ALEKSANDROVNA,Кузнецова Ирина Александровна (RU),SHAKHOVA NATALJA MIKHAJLOVNA,Шахова Наталья Михайловна (RU),KACHALINA TATJANA SIMONOVNA,Качалина Татьяна Симоновна (RU),GLADKOVA NATAL
申请号：
RU2011119422/14
公开号：
RU0002463958C1
申请日:
2011.05.13
申请国别(地区):
RU
年份:
2012
代理人:
摘要：
FIELD: medicine.SUBSTANCE: invention relates to medicine, functional diagnostics, gynecology, oncology, for estimation of state of covering tissue of cervix (C). Colposcopy of C surface and examination of its sections with atypical colposcopic signs is performed by means of optic coherent tomography (OCT) directing beam of low-coherent optic radiation of direct polarisation (DP) of visible or nearest IR-range on examined surface, its scanning and registration of OCT-image, presenting intensity of radiation, backscattered by examined surface. Simultaneously with examination of C surface sections by means of DP radiation, said sections are examined by low-coherent optic radiation of said wave range of orthogonal polarisation (OP) with angle of radiation deviation 40-50°. OCT-images are registered in DP and OP. Benign pathology of C surface is diagnosed in case of structural or structureless OCT-image in DP and OCT-image of high signal intensity in OP. Malignant pathology of C is diagnosed in case of structureless and/or low-structural OCT-image in DP and OCT-image in OP of low signal intensity and/or its absence.EFFECT: method ensures increase of accuracy in diagnosing C pathology, which optimises indications for biopsy, reducing percentage of unjustified biopsies.3 ex, 7 dwgИзобретение относится к медицине, функциональной диагностике, гинекологии, онкологии, для оценки состояния покровной ткани шейки матки (ШМ). Проводят кольпоскопию поверхности ШМ и исследование ее участков с атипичными кольпоскопическими признаками с помощью оптической когерентной томографии (ОКТ) путем направления пучка низкокогерентного оптического излучения прямой поляризации (ПП) видимого или ближнего ИК-диапазона на исследуемую поверхность, его сканирования и регистрации ОКТ-изображения, отражающего интенсивность излучения, обратно рассеянного исследуемой поверхностью. Одновременно с исследованием участков поверхности ШМ с помощью излучения ПП исследуют эти участки низкокогерентным оптическим
