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Verfahren und Vorrichtung zur Detektion und Lokalisierung von mikrostimulierten Partikeln
专利权人:
Technische Universität Ilmenau
发明人:
Matthias Hein,Ralf Stephan
申请号:
DE102015101834
公开号:
DE102015101834A1
申请日:
2015.02.09
申请国别(地区):
DE
年份:
2016
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion und Lokalisierung von Partikeln mittels elektromagnetischer Wellen. Dazu werden folgende Schritte ausgeführt: Auswahl von Partikeln (01) mit vorbestimmten magnetischen oder thermischen Eigenschaften, die eine Mikrostimulation ermöglichen Einbringen der Partikel (01) in ein Untersuchungsobjekt Aussenden elektromagnetischer Wellen (07) zum Untersuchungsobjekt (02, 03) und Empfangen eines zurückgestreuten Signals (08). Erfindungsgemäß wird eine zeitlich veränderliche äußere Kraft in das Untersuchungsobjekt eingeprägt, wobei diese Kraft so ausgewählt ist, dass sie aufgrund der vorbestimmten Eigenschaften der Partikel (01) ebendiese magnetisch oder thermisch mikrostimuliert. Das zurückgestreute Signal (08) wird ausgewertet durch Korrelation des Zeitverlaufes des zurückgestreuten Signals (08) und der Änderung der äußeren Kraft über die Zeit. Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Detektion und Lokalisierung von in einem Untersuchungsobjekt (02, 03) enthaltenen Partikeln (01).The invention relates to a method for detection and localization of particles by means of electromagnetic waves. For this purpose, the following steps are carried out: selection of particles (01) with predetermined magnetic or thermal properties, the stimulation enable a microprocessor introduction of the particles (01) in an object to be examined emission of electromagnetic waves (07) to the object to be examined (02, 03) and receiving a backscattered signal (08). According to the invention, a temporally variable external force is impressed into the examination subject, and this force is selected so that, by virtue of the predetermined properties of the particles (01) precisely the microorganisms of the magnetically or thermally stimulated. The backscattered signal (08) is evaluated by the correlation of the time course of the backscattered signal (08) and the change of the outer force over time. The present invention also relates to a devi
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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