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一种静态CT系统几何参数校正方法
专利权人:
深圳先进技术研究院
发明人:
蒋昌辉,胡战利,梁栋,张其阳,石伟,洪序达,高娟,郑海荣
申请号:
CN201711165876.1
公开号:
CN108201447A
申请日:
2017.11.21
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本发明提出了一种静态CT系统几何参数校正方法,所述静态CT系统由多个射线源和一个以上探测器构成,所述几何参数为每个射线源与对应的探测器之间的几何参数,所述方法包括如下步骤:步骤a:将校正体模放置在需要校正几何参数的静态CT系统中,所述校正体模具有标记小球;步骤b:每个射线源触发一次射线,获得多幅投影;以及步骤c:根据每幅投影中标记小球的投影中心点的坐标,结合已知的标记小球在待校正系统中的坐标,计算获得整个静态CT系统的校正后的几何参数。本发明可以同时适用于离体CT系统和活体CT系统,并可以同时校正CT系统的全部10个几何参数。另外,本发明仅需要各射线源对校正体模进行1次投影,即可得到CT重建所需的全部几何参数。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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