您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

A CABINET X-RAY SYSTEM FOR IMAGING A SPECIMEN AND ASSOCIATED METHOD
专利权人:
CIRDAN IMAGING LIMITED
发明人:
DUNNIECE, Stephen,RAINEY, Paul,LATIMER, Sean
申请号:
EPEP2017/066230
公开号:
WO2018/002281A3
申请日:
2017.06.29
申请国别(地区):
WO
年份:
2018
代理人:
摘要:
A cabinet x-ray system for imaging a specimen, the cabinet x-ray system comprising an enclosable chamber having a specimen supporting surface and an x-ray source adaptable to concurrently emit x-rays and move along a path to an imaging position. A further cabinet x-ray system for imaging a specimen, the cabinet x-ray system comprising an enclosable chamber having a specimen supporting surface, an x-ray source and an x-ray detector comprising an electronic imager having a global shutter. A control system operable to control the cabinet x- ray systems. A method for imaging a specimen in a cabinet x-ray system comprising an enclosable chamber having a specimen supporting surface and an x-ray source, the method comprising: controlling the x-ray source to concurrently emit x-rays and move along a path to an imaging position.Linvention se rapporte à un système à rayons X en cabinet qui permet dimager un échantillon, le système à rayons X en cabinet comprenant une chambre pouvant être enfermée qui possède une surface de support déchantillon et une source de rayons X pouvant être adaptée pour émettre des rayons X et se déplacer en même temps le long dun chemin vers une position dimagerie. Linvention a trait à un autre système à rayons X en cabinet qui permet dimager un échantillon, le système à rayons X en cabinet comportant une chambre pouvant être enfermée qui possède une surface de support déchantillon, une source de rayons X, et un détecteur de rayons X incluant un imageur électronique qui présente un obturateur global. Linvention concerne également un système de commande qui permet de commander les systèmes à rayons X en cabinet. Linvention se rapporte aussi à un procédé qui permet dimager un échantillon dans un système à rayons X en cabinet comprenant une chambre pouvant être enfermée qui possède une surface de support déchantillon et une source de rayons X, le procédé consistant à commander la source de rayons X pour émettre des rayons X et se déplacer en même temps
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
相关专利

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充