作物生长发育诊断方法及生长发育诊断系统
- 专利权人:
- 国立大学法人长冈技术科学大学
- 发明人:
- 高桥一义,力丸厚
- 申请号：
- CN201080002061.1
- 公开号：
- CN102088839A
- 申请日:
- 2010.03.08
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 谢丽娜`关兆辉
- 摘要：
- 本发明提供不易受气候影响且不需进行地表面的测量·检测处理的作物生长发育诊断方法。其具备以下步骤：从作物茎叶上方的照射点开始向作物茎叶照射复数激光脉冲的步骤(S1)，光接收点接收被作物茎叶或地表面反射的激光脉冲的步骤(S2)，通过测量从激光脉冲的照射到接收所需的传播时间来获取包括从照射点到反射点之间距离的作物茎叶的三维点云数据的步骤(S3)，根据三维点云数据算出作物茎叶的冠层位置的步骤(S4)，由冠层位置和三维点云数据算出从冠层位置到反射点的激光脉冲透入深度和激光脉冲透入率的步骤(S5)，和由激光脉冲透入深度和激光脉冲透入率推算植被率的步骤(S6)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
