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锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法
- 专利权人:
- 广州华端科技有限公司
- 发明人:
- 李翰威,齐宏亮,骆毅斌,吴书裕,詹欣智,黄文记
- 申请号：
- CN201710393440.1
- 公开号：
- CN106994023B
- 申请日:
- 2017.05.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,包括:分别在CBCT系统探测器未偏置状态以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态,获取CBCT系统探测器未偏置状态下的第一投影数据,以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态下的第二投影数据;在第一投影数据中获取投影数据集A,计算投影数据集A的中心点坐标,在第二投影数据中获取投影数据集B,计算投影数据集B的中心点坐标;根据投影数据集A的中心点坐标、投影数据集B的中心点坐标、以及投影数据集A以及投影数据集B的之间的对应关系确定估计坐标以及目标函数;计算目标函数取到最小值时的估计坐标,得到优化估计值,根据优化估计值确定CBCT系统在该次采样过程中的几何参数。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
