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Method for generating a phase contrast dark field display, grid interferometer and X-ray imaging system
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Martino Leghissa
申请号:
DE102014218291
公开号:
DE102014218291A1
申请日:
2014.09.12
申请国别(地区):
DE
年份:
2016
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren, ein Gitterinterferometer und ein bildgebendes Röntgensystem zur Erzeugung einer Phasenkontrast-Dunkelfelddarstellung vorgeschlagen, wobei ein Untersuchungsobjekt mit einem Gitterinterferometer zur Aufnahme eines Datensatzes, der ortsaufgelöst zumindest eine Bestimmung der Visibilität (V = A/I) und der Transmission (T = I/I0) ermöglicht, durchstrahlt wird, ein unkorrigiertes Dunkelfeldbildes (DFunkorr(x, y) = 1 – Vobj(x, y)/Vref(x, y))) gemessen und ein korrigiertes Dunkelfeldbild (DFkorr(x, y) = DFunkorr(x, y) – fkorr(T(x, y))) mit Hilfe einer objektabhängigen Korrekturfunktion (fkorr) und dem Transmissionsbild (T(x, y)) errechnet wird.The invention relates to a method, a grating interferometer and an X-ray imaging system for producing a phase contrast dark field display proposed, wherein an examination subject with a grating interferometer for recording a data set, the spatially resolved at least one determination of the visibility (V = A / I) and the transmission (T = I / I0) is transmitted, an uncorrected dark field image (DFunkorr (x, y) = 1 - Vobj (x, y) / Vref (x, y))) is measured and a corrected dark field image (DFkorr (x, y) = DFunkorr (x, y) - fkorr (T (x, y))) is calculated using an object-dependent correction function (fkorr) and the transmission image (T (x, y)).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
相关发明人
martino leghissa
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