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用于反向的X射线-相位对比成像的装置和方法
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- G.萨弗特
- 申请号：
- CN201310330331.7
- 公开号：
- CN103575750A
- 申请日:
- 2013.08.01
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于反向的X射线-相位对比成像的装置和相关的方法。该装置包括对光子进行计数的X射线探测器（5）；多射束X射线管（4），这样准直其焦点（8），使得可以分别产生狭长的X射线束（7），其对准该装置的光学轴（6）以及对准X射线探测器；在X射线管和X射线探测器之间布置的源光栅（G0），其尺寸为可以透射多射束X射线管的所有X射线束；在源光栅和X射线探测器之间布置的衍射光栅（G1），其尺寸为可以透射穿过源光栅的所有X射线束；和在衍射光栅和X射线探测器之间布置的吸收光栅（G2），其尺寸为可以透射穿过衍射光栅的所有X射线束。本发明的优势为生产麻烦的吸收光栅具有三种光栅中最小光栅面积且在成像时不必移动。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
