A scattering line distribution measuring system for an X-ray apparatus for measuring a scattering line distribution of radiation radiated from an X-ray apparatus and a method for measuring scattering line distribution thereof. In the present invention, the shape parameters related to the X-ray irradiation (the distance (FOD) between the focus point where the X-ray is generated in the X-ray tube of the X-ray apparatus and the point where the beam stop array is placed, (OID) between the beam stop and the beam stop (A) and the distance (d) between the beam stop (A) and the adjacent beam stop (B) in the beam stop array. Next, the control unit stores the shape parameters in a memory, and displays image information to be photographed on the display unit. Thereafter, when the user selects X-ray irradiation and is irradiated by the X-ray apparatus, the image detector acquires and outputs a beam stop image, and the control unit receives the beam stop image, And displays it on the display unit.X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템 및 그의 산란선 분포 측정 방법이 개시된다.본 발명에서는 X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력받는다. 다음, 제어부가 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시한다. 이후, 사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하고, 상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시한다.
