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X線撮影装置
专利权人:
SHIMADZU CORPORATION
发明人:
NAKAYA Tomohiro,中矢 知宏,MORI Kazuhiro,森 一博
申请号:
JPJP2015/050546
公开号:
WO2016/111014A1
申请日:
2015.01.09
申请国别(地区):
WO
年份:
2016
代理人:
摘要:
A feature amount extraction unit 27 extracts a feature amount from each learning image generated under the same combined condition information, and a classifier generation unit 35 generates a classifier by learning with the extracted feature amount as training data. A storage unit 43 stores the generated classifier in association with the combined condition information of the learning image. A classifier selection unit 37, upon input of the combined condition information at the time of generation of an examination image, searches for the most closely related stored combined condition image and selects the classifier that is associated with the searched combined condition image. The classifier selection unit 37 then extracts the most appropriate image processing method for the examination image using the selected classifier. The appropriate image processing method for the examination image is extracted on the basis of the feature amount of the examination image received by a classifier C. In this case, the appropriate image process can be promptly applied to the examination image under any set of combined conditions. Additionally, the quality of the X-ray image after the image processing can be kept constant regardless of the operators skill.Selon linvention, une unité dextraction de quantité de caractéristiques 27 extrait une quantité de caractéristiques de chaque image dapprentissage générée dans les mêmes informations de conditions combinées, et une unité de génération de classificateur 35 génère un classificateur par apprentissage avec la quantité de caractéristiques extraite comme données dapprentissage. Une unité de stockage 43 stocke le classificateur généré en association avec les informations de conditions combinées de limage dapprentissage. Une unité de sélection de classificateur 37, lors de lentrée des informations de conditions combinées au moment de la génération dune image dexamen, recherche limage de conditions combinées stockée la plus étroitement li
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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