一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法
- 专利权人:
- 南昌大学
- 发明人:
- 陈勇,邵文祥,黄洁,曾芳发
- 申请号：
- CN201110318629.7
- 公开号：
- CN102507580A
- 申请日:
- 2011.10.19
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 施秀瑾
- 摘要：
- 一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法，其特征是将处于悬浮状态的贴壁细胞种植在培养孔或板上，在细胞贴壁和铺展过程中，使用成像设备，捕获细胞在不同时间点的形貌图，测量出每个细胞的贴壁面积，将铺展前后细胞的形态理想化为圆形，并按
计算出细胞铺展速率（单位时间内细胞半径的增长速率）。本发明以理想化的细胞半径为标准，根据细胞铺展所用时间和细胞半径的变化而计算出来的铺展速率，解决了传统方法的缺点，比传统的细胞铺展测量方法要更加精确，且需测量设备简单，计算方法同样简单、可行，也易于整合到测量设备中去。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
