探测值校正设备
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- M·贝尔特拉姆,J·维格特,S·G·维斯纳
- 申请号：
- CN201010102935.2
- 公开号：
- CN101810488B
- 申请日:
- 2010.01.28
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及用于校正多能量成像系统的投影图像的探测值的探测值校正设备(10)。散射贡献提供单元(11)为探测值的不同强度、不同能量和在探测表面上的不同位置提供散射贡献。散射贡献组合单元(30)将散射贡献相组合以校正探测值，其中所组合的散射贡献表示由投影图像的其它探测值的辐射所引起的散射对将要校正的探测值的贡献，并且其中在考虑了其它探测值的强度、能量和在探测表面上的位置的情况下，将该散射贡献相组合。校正单元(12)通过利用所组合的散射贡献来对投影图像的探测值进行散射校正。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
