使用质子共振频率和T1测量的磁共振成像温度测定

• 收藏
• 分享

专利权人:

皇家飞利浦有限公司

发明人:

S·魏斯

申请号：

CN201680018452.X

公开号：

CN107427257A

申请日:

2016.03.28

申请国别(地区):

CN

年份:

2017

代理人:

摘要：

本发明提供了一种操作具有磁共振成像系统(102)的医学器械(100、400、500、600)的方法。所述方法包括:通过根据T1测量磁共振成像协议控制所述磁共振成像系统来采集(202)平衡磁化磁共振成像数据(148),并且计算平衡磁化基线图像(156)。所述方法还包括根据质子共振频移磁共振成像协议来采集(206)动态PRFS磁共振数据。所述方法还包括根据所述T1测量磁共振成像协议来重复地采集(208)磁共振数据部分(152),所述T1测量磁共振成像协议具有在所述采集的开始处的饱和准备(804)。对所述动态PRFS磁共振数据的所述采集以及对所述磁共振数据部分的所述采集是交错的。所述方法还包括将所述磁共振数据部分重复地重新汇集(212)成动态T1磁共振数据。所述方法还包括使用所重新汇集的动态T1磁共振数据和所述平衡磁化基线图像来重复地计算(214)T1图(158)。所述方法还包括使用所述动态PRFS磁共振数据和所述T1图来重复地计算(216)PRFS相位校准(160)。所述方法还包括在已经计算了所述PRFS相位校准的情况下使用所述动态PRFS磁共振数据和所述PRFS相位校准来计算(218)PRFS温度图(162)。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/