An x-ray imaging method comprises the steps of: providing a set of at least one training material, the set comprising different materials and/or different thicknesses of the or each material； obtaining observed x-ray images of the at least one training material with a pixellated detector； building a database in a simulator of simulated scatter kernels for variable parameters within the simulator for each of the at least one training material； generating a transfer function between parameters of the simulator and parameters of the observed image which is independent of sample type and thickness； generating a whole image scatter estimate； predicting the direct radiation for each scatter kernel； applying the transfer function to the scatter estimate and the direct radiation or the inverse of the transfer function to the observed intensity values； performing the calculation Z-S-D <； threshold to provide scatter free data and/or a scatter free image.La présente invention concerne un procédé d'imagerie par rayons (X) comprenant les étapes suivantes : préparation d'un ensemble d'au moins un matériau d'apprentissage, l'ensemble comprenant différents matériaux et/ou des épaisseurs différentes du matériau ou de chaque matériau； l'obtention d'images de rayons (X) observées dudit matériau d'apprentissage avec un détecteur pixelisé； la construction d'une base de données dans un simulateur de noyaux de diffusion simulée pour des paramètres variables à l'intérieur du simulateur pour chacun desdits matériaux d'apprentissage； la production d'une fonction de transfert entre les paramètres du simulateur et les paramètres de l'image observée qui est indépendante du type d'échantillon et de l'épaisseur； la production de l'estimation de diffusion de l'image complète； la prédiction du rayonnement direct pour chaque noyau de diffusion； l'application de la fonction de transfert à l'estimation de diffusion et l'irradiation directe ou l'inverse de la fonction de transfert aux valeurs d'inte
