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Method for characterizing material by analysis of speckles
专利权人:
Safran Identity & Security
发明人:
Maalouf, Aldo,Guillemot, Florence,Chiu, Remy
申请号:
AU2016222454
公开号:
AU2016222454A1
申请日:
2016.09.01
申请国别(地区):
AU
年份:
2017
代理人:
摘要:
#$%^&*AU2016222454A120170323.pdf#####
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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