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METHODS FOR MEASURING SKIN STRUCTURE
专利权人:
(주)아모레퍼시픽
发明人:
한지연,남개원,김명준
申请号:
KR1020100070847
公开号:
KR1016471030000B1
申请日:
2010.07.22
申请国别(地区):
KR
年份:
2016
代理人:
摘要:
The skin structure measuring method comprising the steps of: photographing a plurality of images corresponding to each of the plurality of light irradiation directions while sequentially irradiating light to the skin in a plurality of light irradiation directions which are different from each other; And generating a first normal map corresponding to the normal information of the skin surface using the brightness of the plurality of images. Using the skin structure measuring method, a normal map corresponding to a microstructure such as wrinkles and pores existing on the skin can be generated, and the generated normal map can be displayed as an image. Through the images thus generated, the effect of improving the skin structure before and after use of a specific cosmetic product can be visually confirmed easily.피부 구조 측정 방법은, 서로 상이한 복수 개의 광 조사 방향에서 순차적으로 피부에 광을 조사하면서, 상기 복수 개의 광 조사 방향 각각에 대응되는 복수 개의 이미지를 촬영하는 단계; 및 상기 복수 개의 이미지의 밝기를 이용하여 피부 표면의 법선 정보에 대응되는 제1 노말 맵(normal map)을 생성하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 피부 구조 측정 방법을 이용하면, 피부에 존재하는 주름이나 모공 등과 같은 미세 구조에 대응되는 노말 맵을 생성하고, 생성된 노말 맵을 이미지로 표시할 수 있다. 이와 같이 생성된 이미지를 통하여 특정 화장품 제품 사용 전후의 피부 구조 개선 효과 등을 알기 쉽게 가시적으로 확인할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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