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植物用センサ装置
专利权人:
TOPCON CORPORATION
发明人:
ZHAO Peng,趙 鵬,AKIYAMA Shugo,秋山 秀吾,HANYA Issei,半谷 一晴
申请号:
JPJP2016/062461
公开号:
WO2016/175094A1
申请日:
2016.04.20
申请国别(地区):
WO
年份:
2016
代理人:
摘要:
Provided is a sensor device for plants that is capable of measuring a growing condition factor different from spectral vegetation index without causing structural additions. The sensor device (10) for plants comprises: light-emitting units (26, 27) that emits measurement light (P1, P2) illuminating an object (Cr) for which growing conditions are measured a light-receiving unit (35) that receives reflected light (Pr) of the measurement light from the object for which growing conditions are measured and control units (23, 24, 25) that drive control the light-emitting units and the light-receiving unit, and obtain a reflection factor of the object for which growing conditions are measured from the measurement light and the reflected light (Pr) to obtain a spectral vegetation index of the object for which growing conditions are measured. The control units use the measurement light and the reflected light (Pr) to obtain a distance (D) from the light-emitting units to the object for which growing conditions are measured, and use the distance (D) to obtain a plant height value (H) of the object for which growing conditions are measured.Linvention concerne un dispositif capteur pour plantes qui est capable de mesurer un facteur de condition de croissance différent de lindice de végétation spectral sans provoquer dajouts de structure. Le dispositif capteur (10) pour plantes comprend : des unités émettant de la lumière (26, 27) qui émettent de la lumière de mesure (P1, P2) éclairant un objet (Cr) pour lequel des conditions de croissance sont mesurées une unité recevant de la lumière (35) qui reçoit la lumière réfléchie (Pr) de la lumière de mesure provenant de lobjet pour lequel des conditions de croissance sont mesurées et des unités de commande (23, 24, 25) qui pilotent la commande des unités émettant de la lumière et de lunité de réception de lumière, et obtiennent un facteur de réflexion de lobjet pour lequel des conditions de croissance sont mesurées à partir de la lum
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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