使用红外线光热辐射测量(PTR)和调制激光发光(LUM)进行牙齿缺陷诊断的装置

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专利权人:

史蒂芬·艾布拉姆斯;基兰·库尔卡尼;全镇锡;安娜·马特维安科;安德烈亚斯·曼德利斯

发明人:

安德烈亚斯·曼德利斯,史蒂芬·艾布拉姆斯,全镇锡,基兰·库尔卡尼,安娜·马特维安科

申请号：

CN200680033279.7

公开号：

CN101262822B

申请日:

2006.07.18

申请国别(地区):

CN

年份:

2013

代理人:

摘要：

提供了一种高空间分辨率的动态诊断仪器，其可以测量来自于口腔内牙齿的缺陷、脱矿化、再矿化和蛀蚀的激光诱导的频域红外线光热辐射测量和交流(ac)调制发光信号。重点在于这种仪器处理重要问题的能力，例如，检测、诊断和现场监视蛀蚀损伤、和/或咬合面坑和裂缝、光滑的表面以及牙齿之间的邻间区域的缺陷，这些通常都是X射线的射线照相或可视检查所检测不出来的。本仪器也能够检测早期脱矿化的牙齿区域，和/或再矿化的牙齿区域以及沿修复物边缘的缺陷。通过使用多阵列红外线照相机，这种检查局部点的能力可以被扩展到对目标牙齿的亚表面进行调制成像。提供了该仪器的两种配置。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/