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MESURE D'UNE PROPRIÉTÉ DANS UN CORPS
专利权人:
Koninklijke Philips N.V.
发明人:
申请号:
EP18708953.7
公开号:
EP3592209A1
申请日:
2018.02.27
申请国别(地区):
EP
年份:
2020
代理人:
摘要:
A measurement circuit for measuring a property in a body comprises: a resonant circuit comprising a first element and a second element, where in at least one of the first element and the second element is configured such that a property thereof is dependent on the property in the body; and a non-linear element arranged to generate intermodulation products when the circuit is driven by an input signal comprising a first component at a first frequency and a second component at a second frequency. A measurement system for measuring a property in a body comprises: a measurement circuit as described above; a driving circuit for providing a driving signal to the measurement circuit, wherein the driving signal comprises a first component at a first frequency and a second component at a second frequency; and an analyzer circuit for analyzing a response of the measurement circuit in order to obtain a measurement of the property.La présente invention concerne un circuit de mesure pour mesurer une propriété dans un corps qui comprend : un circuit résonant comprenant un premier élément et un second élément, au moins l'un des membres choisis parmi un premier élément et un second élément étant configuré de telle sorte qu'une propriété de celui-ci dépende de la propriété dans le corps ; et un élément non linéaire agencé pour générer des produits d'intermodulation lorsque le circuit est entraîné par un signal d'entrée comprenant un premier composant à une première fréquence et un second composant à une seconde fréquence. Un système de mesure pour mesurer une propriété dans un corps comprend : un circuit de mesure tel que décrit ci-avant ; un circuit de commande destiné à fournir un signal de commande au circuit de mesure, le signal de commande comprenant un premier composant à une première fréquence et un second composant à une seconde fréquence ; et un circuit analyseur pour analyser une réponse du circuit de mesure afin d'obtenir une mesure de la propriété.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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