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X-RAY BEAM-HARDENING CORRECTION IN TOMOGRAPHIC RECONSTRUCTION USING ALVAREZ-MACOVSKI ATTENUATION MODEL
专利权人:
FEI CO;エフイーアイ カンパニー
发明人:
YANG QIHENG,ヤン チーヘン,GLENN R MYERS,マイヤーズ グレン アール.,SHANE J LATHAM,レイサム シェーン ジェイ.,ADRIAN P SHEPPARD,シェパード エイドリアン ピー.,ANDREW KINGSTON,キングストン アンドリュー
申请号:
JP2019077112
公开号:
JP2019188135A
申请日:
2019.04.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To provide beam hardening correction to tomographic reconstruction using a simplification to the Alvarez-Macovski attenuation model.SOLUTION: A method includes: simplifying a forward projection model, the forward projection model being based on an Alvarez-Macovski (AM) attenuation model, the simplification of the forward projection model simplifying the AM attenuation model for one of photoelectric effect only, constant density, constant atomic number, and density proportional to atomic number; and performing an iterative reconstruction of a subject using the simplified forward projection model, the iterative reconstruction being weighted by a first spectrum, measured image data of the subject used in the iterative reconstruction being obtained by a first energy, and a reverse operation of the iterative reconstruction being a non-adjoint to the simplified forward projection model. An apparatus using the method is also described herein.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】Alvarez-Macovski減衰モデルの単純化を使用して断層像再構成にビームハードニング補正を提供する。【解決手段】順投影モデルを単純化する工程であって、前記順投影モデルが、Alvarez-Macovski(AM)減衰モデルに基づき、順投影モデルの単純化が、光電効果のみ、一定密度、一定原子番号、および密度が原子番号に比例することのうちの1つについてAM減衰モデルを単純化する工程と、単純化された順投影モデルを使用して被検体の反復再構成を実行する工程であって、反復再構成が第1のスペクトルによって重み付けされ、反復再構成において使用される被検体の測定画像データが第1のエネルギーで得られ、反復再構成の逆演算が、単純化された順投影モデルに対して非随伴である、工程を含む方法および装置を適用する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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