The present invention relates to an X-ray inspection apparatus and method, and more particularly, to an X-ray inspection apparatus and method for verifying the shape and size of an object to be inspected at a lower portion of an X-ray tube and adjusting a diaphragm accordingly, And to provide an X-ray inspection apparatus and method for enabling a precise photographing and diagnosis to be performed in addition to greatly reducing the exposure dose.본 발명은 엑스선 검사장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 엑스선관 직하부에서 피검사체 인식부가 피검사체의 형상과 크기를 확인하여 그에 따라 조리개를 조정하고 엑스선 촬영과정에서 상기 인식부가 장애물로 작용하지 않도록 함으로서, 피폭선량을 대폭 감소하도록 함과 아울러 정확한 촬영 및 진단이 가능하도록 하는 엑스선 검사장치 및 방법에 관한 것이다.
