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Method and X-ray system for generating phase-contrast and / or dark-field representations of an examination subject
专利权人:
Siemens Healthcare GmbH
发明人:
Ludwig Ritschl
申请号:
DE102016206153
公开号:
DE102016206153A1
申请日:
2016.04.13
申请国别(地区):
DE
年份:
2017
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Röntgensystem (1) zur Erzeugung mindestens einer projektiven oder tomographischen Phasenkontrast- und/oder Dunkelfelddarstellung eines Untersuchungsobjektes (O) mit Hilfe eines Talbot-Lau-Gitter-Interferometers (G0, G1, G2, D) durch eine Phasestepping-Methode, bei der mit und ohne Untersuchungsobjekt (O) eine Vielzahl von Intensitätsbildern (IRef, IObj) mit unterschiedlichen Gitterpositionen aufgenommen werden, wobei für einen Abgleich der Gitterpositionen von Intensitätsaufnahmen (IRef) ohne Untersuchungsobjekt (O) und Intensitätsaufnahmen (IObj) mit Untersuchungsobjekt (O) in den Intensitätsaufnahmen (IRef) ohne Untersuchungsobjekt (O) enthaltene Moiré-Muster mit in den Intensitätsaufnahmen (IObj) mit Untersuchungsobjekt (O) enthaltene Moiré-Muster verwendet werden.The invention relates to a method and an x-ray system (1) for generating at least one projective or tomographic phase contrast and / or dark field representation of an examination subject (O) by means of a Talbot-Lau grating interferometer (G0, G1, G2, D) Phase-stepping method in which a plurality of intensity images (IRef, IObj) with different grating positions are recorded with and without examination object (O), wherein for matching the grating positions of intensity images (IRef) without examination object (O) and intensity images (IObj) with Examination object (O) in the intensity images (IRef) without object to be examined (O) moire pattern contained in the intensity images (IObj) with object to be examined (O) moire pattern can be used.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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