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放射線画像検出装置、放射線撮影装置、及び放射線撮影システム
专利权人:
FUJIFILM Corporation
发明人:
MURAKOSHI Dai,村越大,KANEKO Yasuhisa,金子泰久
申请号:
JPJP2011/077261
公开号:
WO2012/070662A1
申请日:
2011.11.25
申请国别(地区):
WO
年份:
2012
代理人:
摘要:
Provided are a radiographic image detector, radiography apparatus, and radiography system with which phase contrast images of stable image quality can be obtained using gratings that can be stably produced. The radiography system is provided with a first grating (31) having multiple bands (31b) disposed in a first direction (x direction), a second grating (32) having multiple bands (32b) disposed so as to mask periodically the radiographic image formed by radiation passing through the first grating (31), and a radiographic image detector (30) that detects, using multiple pixels (40), the radiographic image masked by the second grating (32). The first and second gratings (31, 32) each contain multiple grating pieces (311, 321) disposed at least in the first direction, x, in a plane intersecting with the optical axis of the radiation and the pitch PC of grating piece (311, 321) arrangement in the x-direction is two or more times the pixel pitch PD of the radiographic image detector (30) in the x-direction.Linvention porte sur un détecteur dimage radiographique, sur un appareil de radiographie et sur un système de radiographie dans lesquels des images à contraste de phase de qualité dimage stable peuvent être obtenues à laide de réseaux de diffraction qui peuvent être produits de manière stable. Le système de radiographie comporte un premier réseau de diffraction (31) ayant de multiples bandes (31b) disposées dans une première direction (direction x), un second réseau de diffraction (32) ayant de multiples bandes (32b) disposées de façon à masquer périodiquement limage radiographique formée par un rayonnement traversant le premier réseau de diffraction (31), et un détecteur dimage radiographique (30) qui détecte, à laide de pixels multiples (40), limage radiographique masquée par le second réseau de diffraction (32). Les premier et second réseaux de diffraction (31, 32) contiennent chacun de multiples éléments de réseau de diffraction (311, 321) disposés au moins dans
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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