您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

치아 위치 검사 방법
专利权人:
SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH
发明人:
WUNDRAK STEFAN,분트락, 슈테판,LINDENBERG KAI,린덴베르크, 카이
申请号:
KR1020157001983
公开号:
KR1020150022018A
申请日:
2013.06.25
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
The invention relates to a method for checking tooth positions, wherein an initial three-dimensional volume exposure (1) of teeth (2, 3, 4) to be checked is implemented, wherein the position and orientation of the teeth (2, 3, 4) to be checked are determined based on the initial volume exposure (1) wherein the teeth to be checked are natural teeth (2, 3, 4) comprised of tooth stumps (6, 7, 8) and tooth roots (9, 10, 11) and/or are artificial teeth comprised of artificial tooth stumps and implants wherein the positional relationship and orientation of the tooth stumps (6, 7, 8) relative to the tooth roots (9, 10, 11) and/or to the implants are determined in particular. For checking, a first optical surface monitoring exposure (25) of the teeth (2, 3, 4) is implemented, wherein using the positional relationship thus determined the position and orientation of the tooth roots (9, 10, 11) and/or of the implants relative to one another and/or relative to a jawbone (5) are determined based on the position of the surfaces (13, 14, 15) of the tooth stumps (6, 7, 8) from the optical surface monitoring exposure (25).본 발명은 검사될 치아(2, 3, 4)의 최초 3차원 볼륨 영상(volume exposure)(1)이 구현되고, 검사될 치아(2, 3, 4)의 위치 및 배향이 최초 볼륨 영상(1)에 기초하여 판정되고, 검사될 치아는 치아 잔근(tooth stump)(6, 7, 8) 및 치근(tooth root)(9, 10, 11)으로 이루어진 자연 치아(2, 3, 4) 및/또는 인공 치아 잔근 및 임플란트(implant)로 이루어진 인공 치아이고, 치근(9, 10, 11)에 대한 그리고/또는 임플란트에 대한 치아 잔근(6, 7, 8)의 위치 관계 및 배향이 특히 판정되는 치아 위치 검사 방법에 관한 것이다. 검사를 위하여, 치아(2, 3, 4)의 제1 광학 표면 모니터링 영상(25)이 구현되고, 그에 따라서 판정된 위치 관계를 이용하여 치근(9, 10, 11) 및/또는 임플란트의 서로에 대한 그리고/또는 악골(5)에 대한 위치 및 배향이 광학 표면 모니터링 영상(25)으로부터 치아 잔근(6, 7, 8)의 표면(13, 14, 15)의 위치에 기초하여 판정된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充