A system and method for detecting dynamic electromagnetic emission of an integrated circuit (IC) chip is provided. One embodiment of the method, includes exciting nitro variance (NV) centers of a diamond slide located in close proximity to the IC chip via use of light, resulting in an NV fluorescence providing an optical readout of the NV fluorescence, wherein the optical readout provides quantum states of the NV centers, thereby providing a spectra of electromagnetic fields of the IC chip. A determination is then made of at least one of the group comprising clock frequencies of the IC chip, referred to herein as determined clock frequencies, and data bandwidth of the IC chip, referred to herein as determined data bandwidth of the IC chip, from the spectra of electromagnetic fields of the IC chip. A comparison is then performed, comparing at least one of the group comprising determined clock frequencies and determined data bandwidth.La présente invention concerne un système et un procédé pour détecter une émission électromagnétique dynamique dune puce à circuit intégré (IC). Un mode de réalisation du procédé, comprend lexcitation des centres azote-lacune (NV) dune lame de diamant située à proximité étroite de la puce IC par utilisation de la lumière, conduisant à une fluorescence NV la fourniture dune lecture optique de la fluorescence NV, la lecture optique fournissant des états quantiques des centres NV, de manière à fournir un spectre de champs électromagnétiques de la puce IC. Une détermination est ensuite faite dau moins lun du groupe comprenant des fréquences dhorloge de la puce IC, présentement appelées fréquences dhorloge déterminées, et la bande passante de données de la puce IC, présentement appelée bande passante de données déterminée de la puce IC, à partir des spectres de champs électromagnétiques de la puce IC. Une comparaison est ensuite effectuée, comparant au moins lun du groupe comprenant les fréquences dhorloge déterminée et la bande passante de
