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インピーダンスパラメータ値
专利权人:
インぺディメッド リミテッド
发明人:
エセックス、ティム,ウォード、リー コードウィン
申请号:
JP2008524310
公开号:
JP5161772B2
申请日:
2006.07.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
The method of calculating the plural parameter values which are used for the impedance analysis of the subject. Using the processing system, it calculates this method, plural impedance measurable quantities in the frequency of the quantity which corresponds. Using plural impedance measurable quantities, it calculates plural parameter estimation values. Plural theoretical impedance values are calculated on the basis of plural parameter estimation values. Plural theoretical impedance values by comparison with plural impedance measurable quantities, among plural parameter estimation values modification method of one parameter estimation value is decided at least. Next, using this modification method, it modifies one parameter estimation value at least. Plural parameter values are required from the modification being completed parameter estimation value of one or more on the basis at least of partly.被験者のインピーダンス分析に使用される複数のパラメータ値を求める方法。本方法は、処理システムを使用して複数のインピーダンス測定値を対応する個数の周波数において求める。複数のインピーダンス測定値を使用して複数のパラメータ推定値を求める。複数の理論インピーダンス値を複数のパラメータ推定値に基づいて求める。複数の理論インピーダンス値を複数のインピーダンス測定値と比較して、複数のパラメータ推定値のうちの少なくとも一つのパラメータ推定値の変更方法を決定する。次に、この変更方法を使用して、少なくとも一つのパラメータ推定値を変更する。複数のパラメータ値は一つ以上の変更済みパラメータ推定値に少なくとも部分的に基づいて求められる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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