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검사될 대상에 의해 초래되는 x-선 방사선 감쇠를 결정하기 위한 방법 및 디바이스
专利权人:
지멘스 악티엔게젤샤프트
发明人:
한네만, 틸로,라인반트, 마리오
申请号:
KR1020157010833
公开号:
KR1020150059791A
申请日:
2013.07.18
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
the present invention, the target (7) in which the attenuation caused by the decision to order , in addition to the intensity of the X- ray radiation, the use of X- ray radiation directed to a configuration of the spectrum. Another aspect of the invention is suitable device for performing the above-described procedure (procedure) according to the invention, in particular CT or X- ray radiation monitor for the system (1) (M).본 발명은, 대상(7)에 의해 초래되는 감쇠를 결정하기 위하여, X-선 방사선의 세기에 부가하여, X-선 방사선의 스펙트럼 구성의 사용에 관한 것이다. 본 발명의 다른 양상은 본 발명에 따른 전술된 프로시저(procedure)를 수행하기에 적절한 디바이스, 특히 X-선 또는 CT 시스템(1)에 대한 방사선 모니터(M)이다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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