the present invention the first and second composite beam to overlap the reduced -state imaging device configured to include a reduction in relates . The first and second synthesized light is based on the first and second measurement light for irradiating the inspected object . In addition , the image sensor according to the present invention includes a acquisition for acquiring the optical interference tomographic image of the inspected object based on the first and second synthesized light is reduced in the reduction section overlap . A sensor having a minimum number of pixels , and is provided by limiting the cross-talk between the interference light in the sensor .본 발명은 제1 및 제2 합성광의 중첩을 저감하도록 구성된 저감부를 포함하는 촬상장치에 관한 것이다. 상기 제1 및 제2 합성광은 피검사물을 조사하는 제1 및 제2 측정광에 근거한다. 또, 본 발명에 따른 촬상장치는, 상기 저감부에서 중첩이 감소한 상기 제1 및 제2 합성광에 근거한 상기 피검사물의 광간섭 단층 화상을 취득하는 취득부를 구비한다. 최소한의 화소수를 갖는 센서를, 이 센서에 있어서의 간섭광 사이의 크로스토크를 제한함으로써 구비하고 있다.
